基于栅极电流的多芯片IGBT模块芯片支路失效监测方法

  • 打印
  • 收藏
收藏成功


打开文本图片集

中图分类号:TM464 文献标志码:A

0 引言

随着新能源领域对电力电子设备需求的快速增长,设备运行安全的重要性愈加凸显[1]。在光伏、风电和电动汽车领域,电力电子装置失效导致系统故障的比例分别高达 38% 、37% 和 25%[2] ,这显著增加了停机频率和维护成本。绝缘栅双极型晶体管(insulated gatebipolar transistor,IGBT)模块是电力电子装置的核心组件,其可靠性会对电力电子装置的性能产生直接影响。(剩余19619字)

目录
monitor