DDR微组件测试系统设计
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中图分类号：TN108.7 文献标志码：A 文章编号：2095-2945（2026）06-0110-04
DOI：10.19981/j.CN23-1581/G3.2026.06.026
随着微电子技术的快速发展，处理器的工作主频和带宽在成倍地提高，需要存储器提供足够的存储容量。通常会设计多个DDR（DualDateRateSDRSM）存储器，通过在PCB板平铺DDR的方式与处理器之间建立数据传输通道，这种方式会带来大尺寸、低可靠性等问题。（剩余4693字）
