光学曲面的偏折测量技术：原理、挑战与展望（特邀）

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摘要：偏折术由于其测量系统简单、动态范围大、抗干扰能力强，在复杂光学曲面的面形与缺陷检测方面具有独特优势。但是偏折测量的操作复杂、影响因素多、数据传递链条长，严重限制了其在工程实践中的应用。为此，本文介绍了偏折术的工作原理和发展脉络，列举了主要测量步骤，包括结构设计、系统标定、编码与物像匹配以及积分重构。（剩余146字）

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