电子设备综合环境应力试验方法研究

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摘要：本文提出了一种温度-湿度-光照-盐雾综合环境应力的试验方法，选取典型电子设备结构材料开展了传统环境试验和综合环境应力试验的对比试验，试验结果表明综合环境应力试验方法更能暴露产品在严酷高温、高湿、高盐雾、高紫外光照下的缺陷，可为电子设备结构、材料和工艺的选取和考核提供一定的技术建议和参考。

关键词：温度-湿度-光照-盐雾;电子设备;综合环境应力;工艺考核

中图分类号：TB114.3

引言

随着海洋装备的大力发展，越来越多的电子设备部署在南海岛屿、岛礁上。（剩余3693字）

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